半導體測試設備大廠愛德萬測試（Advantest）推出針對NAND Flash快閃記憶體之最新高產能記憶體測試機，在進行晶片功能測試的同時，亦提供高精確度的時序、可重複性與錯誤偵測。藉由比前代提高5倍以上的資料傳輸速度，最新設計的T5221系統不僅能提升生產效率，還能降低晶圓測試、內建自我測試（BIST）以及晶圓級預燒（Wafer Level Burn-In，WLBI）的測試成本。
NAND多堆疊測試設備全球市場規模高達1億美元，約占整體測試與封裝市場的7％。隨著市場持續擴張，客戶也逐漸捨棄高功能性晶圓分類測試設備，轉而擁抱成本效益更優異、採用多探頭系統的可測試性設計（DFT）與BIST策略。
T5221已針對多晶圓針測機進行最佳化，其系統控制器能同時管理高達12個測試站，每一個都具備獨立測試功能，而此合併陣列架構不僅大幅縮短測試時間，也透過大規模同測使這套系統最多能一次對1,152個元件進行晶圓級測試。
新系統的測試機是裝載於多晶圓針測機上，因此不會增加廠區整體占地面積，也使T5221平台占用的空間，比愛德萬測試先前推出的非揮發性記憶體測試機再加一台獨立針測機還要節省。
最新測試機於量產環境可以配備在12個測試站的多晶圓針測機上；亦可在工程環境上裝載於單晶圓或雙晶圓針測機。T5221的探針卡設計已經過簡化，藉此降低持有成本與測試成本。該機台還具備整合性效能電路板，省掉在探針卡上裝印刷電路板的需求。
T5221系統特色包括每一個受測元件都會有2個驅動接腳 （driver pin）和1個I/O接腳，還有靈活彈性的演算碼型產生器（ALPG）、1個波型產生器和多種自我診斷功能。
T5221的表現範圍可藉由升級做進一步強化，最高可將電源供應等級提升至28伏特，同時仍能測量低至1奈安培（nA）的微小電流。這些功能在許多競爭對手的產品中是找不到的。
這款最新測試機甚至還具備「綠色」元素，注重環境友善的設計，在分開與拆解系統零件時不再使用有毒物質。
T5221的運作與愛德萬測試舊有記憶體解決方案完全相容，使用者很容易就能從前代設備無縫接軌。
愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁鈴木雅之指出，T5221平台的推出，符合愛德萬測試為NAND晶圓級測試市場提供最新技術的策略。本系統憑藉優異的硬體性能與資料傳輸速度，不論測試時間還是測試成本都比對手產品低上許多。T5221測試機預計將於2022年第一季開始向客戶出貨。